衍射条纹CCD拟合定位方法及其精度分析

被引：13

作者：

张广军

机构：

[1] 北京航空航天大学

来源：

关键词：

定位方法; 曲线拟合; 最小二乘; 定位法; 数值分析; 衍射条纹; CCD; 数字化图象; 衍射物体; 定位精度分析; 拟合曲线; 衍射屏; 峰值点;

D O I：

10.19650/j.cnki.cjsi.1995.01.023

中图分类号：

TH740.2 [];

学科分类号：

摘要：

衍射条纹ＣＣＤ拟合定位方法及其精度分析张广军（北京航空航天大学）０引言电荷耦合器件ＣＣＤ是７０年代发展起来的新型光电器件，它以其线性好、体积小、功耗低、响应速度快及空间分辨率高等优点，已在光衍射测试技术中作为衍射条纹的探测器件而得到了广泛应用。利用Ｃ...

引用

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