利用Mach-Zehnder干涉仪测量晶体的折射率与光学均匀性

被引：7

作者：

杨德兴

赵建林

李恩普

机构：

[1] 西北工业大学应用物理系

来源：

关键词：

折射率，光学均匀性，Mach－Zehnder干涉仪，晶体;

D O I：

10.13741/j.cnki.11-1879/o4.1998.01.018

中图分类号：

TH744.3 [];

学科分类号：

摘要：

本文介绍了利用Ｍａｃｈ－Ｚｅｈｎｄｅｒ干涉仪测量平板状透明介质折射率的方法，给出了测量公式，分析了各种测量误差以及可能达到的测量精度。通过对纯质ＬｉＮｂＯ３晶体片的折射率ｎｅ的测量，证实了该方法的可行性，并表明其特别适合于高折射率的各向异性晶体片折射率的测量。

引用

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