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扩大X射线荧光光谱分析范围的新途径
被引:4
作者
:
陈远盘
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
冶金部地质研究所
陈远盘
机构
:
[1]
冶金部地质研究所
来源
:
分析化学
|
1983年
/ 09期
关键词
:
射线管;
新途径;
全反射;
高真空;
荧光光谱仪;
射线理论;
荧光光谱分析;
荧光分析;
超轻元素;
D O I
:
暂无
中图分类号
:
学科分类号
:
摘要
:
<正> 随着电子计算机应用技术的推广,X射线荧光光谱分析的应用范围不断扩大.仪器已高度自动化.X 射线荧光光谱分析方法已定为国际标准(ISO)分析方法之一,准确度优于发射光谱和原子吸收光谱,但检出限和分析元素的范围不如发射光谱和原子吸收光谱.现用的一般仪器只能分析周期表中原子序数11(Na)—92(U)的元素,含量只能分析 ppm 级以上的浓度.为了克服这些缺点,近几年来加强了扩大分析范围的研究,一是如何降低检出限,二是如何测定周期表中原子序数低于11(Na)的超轻元素.
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页码:707 / 713
页数:7
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