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锗的双层纳米结构及其特性的检测分析方法
被引：2
作者：
黄伟其
刘世荣
蔡绍洪
秦水介
机构：
[1] 贵州大学物理系
[2] 中国科学院地球化学研究所电镜室
[3] 贵州大学物理系 贵州 贵阳 贵州教育学院物理系贵州 贵阳
[4] 贵州 贵阳
来源：
关键词：
高精度椭偏仪;
双层纳米结构;
PL光谱;
量子受限;
D O I：
暂无
中图分类号：
O612.4 [第Ⅳ族元素及其化合物];
学科分类号：
070301 [无机化学];
摘要：
在高精度椭偏仪(HPE)系统中,采用激光照射硅锗合金衬底助氧化的新方法,在SiO2层中生成锗的双纳米面结构;并在样品生长过程中,用高精度椭偏仪(HPE)同步测量样品的纳米结构。采用XES分层对锗原子成份检测的结果与HPE的结果基本一致。用RAMAN光谱仪测量样品的横断面,发现很强的PL发光谱峰。用量子受限模型和改进的量子从头计算(UHFR)方法分析了PL光谱的结构。
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