确定电子产品MTBF增长的Bayes方法

本文用Bayes方法估计经历研制试验的电子产品失效率（或MTBF）问题。进行了m组寿命试验,其失效率满足条件:λ1>λ2>…>λm。感兴趣的参数是产品最后阶段的失效率λm。在取没有验前知识的共轭型验前分布时,容易得到λm的边缘验后概率密度函数。为了满足工程实践的需要,推导了近似解,并举例说明。