共 1 条
[1]
IntegratedCircuitsThermalMeasurementMethod-ElectricalTestMethod (SingleSemiconductorDevice). JESD51-1-1995 .
一种高功率LED热阻的测试方法
被引：20
作者：
马春雷
鲍超
机构：
[1] 浙江大学现代光学仪器国家重点实验室
[2] 浙江大学现代光学仪器国家重点实验室 浙江杭州
[3] 浙江杭州
来源：
关键词：
高功率LED;
热阻;
结温;
D O I：
暂无
中图分类号：
TM923 [电气照明];
学科分类号：
0803 ;
080801 ;
摘要：
叙述了利用动态电学测试方法测量高功率LED热阻和结温的原理、试验装置、测量步骤和影响测试结果的因素。研究结果表明,该方法具有测试结构简单、稳定性高等特点,可作为高功率LED热阻和结温的标准测试方法。
引用
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