CCD辐射响应函数矩阵的建立与应用

为了能采用物理意义明确的函数式来表述大格式电荷耦合器件(CCD)的性能参数,直观地实现对面阵CCD辐射性能的评价,本文提出利用"辐射响应函数矩阵"概念来表述CCD每个像元的辐射性能参量。首先,分析了该矩阵各元素的物理意义,提出了对CCD每个像元的绝对辐射响应度、响应非线性度、暗噪声、信噪比以及非均匀性的描述方法。其次,对面阵CCD KAI-16000进行辐射性能检测,并利用回归分析计算出各像元的响应系数。最后,以测试结果为例,讨论和描述该矩阵的应用和结果。实验结果表明:该CCD近似成线性响应,通过矩阵函数可以计算出CCD非均匀性为3.1%,暗噪声为3.84。此方法实用,满足对大格式CCD直观表述的要求。