GIS中SF6气体泄漏光学检测新技术

被引：29

作者：

吴变桃

肖登明

尹毅

机构：

[1] 上海交通大学电气系

来源：

高压电器 | 2005年 / 02期

关键词：

SF6; 气体泄漏; 光学检测;

D O I：

10.13296/j.1001-1609.hva.2005.02.013

中图分类号：

TM591 [开关柜];

学科分类号：

摘要：

介绍了3种可用于定位检测GIS中SF6气体泄漏的光学成像技术。这些技术能使操作者看到泄漏气体清晰图像,快速识别泄漏源;其远距离识别和瞬时检测能力使检测者可以快速大范围地扫描GIS,泄漏能被立即识别。相对于传统的非在线检测和其它在线检测技术来说,光学成像技术在SF6气体泄漏检测方面,是一个比较大的突破。

引用

页码：116 / 118

页数：3

共 5 条

[1]

DemonstrationofDifferentialBackscatterAbsorptionGasImaging. PEPowers,TJKulp,RKennedy. Applied Optics . 2000

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[5]

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