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提高晶闸管器件对di/dt的耐受能力的途径
被引:2
作者
:
颜廷刚
论文数:
0
引用数:
0
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0
机构:
齐齐哈尔电力半导体器件厂
颜廷刚
鲁广斌
论文数:
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0
机构:
齐齐哈尔电力半导体器件厂
鲁广斌
任伟忠
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引用数:
0
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0
机构:
齐齐哈尔电力半导体器件厂
任伟忠
机构
:
[1]
齐齐哈尔电力半导体器件厂
[2]
齐齐哈尔电力半导体器件厂 齐齐哈尔
[3]
齐齐哈尔
来源
:
信息技术
|
2002年
/ 09期
关键词
:
晶闸管;
di/dt;
抑制;
D O I
:
10.13274/j.cnki.hdzj.2002.09.029
中图分类号
:
TN34 [晶闸管(可控硅)];
学科分类号
:
0805 ;
080501 ;
080502 ;
080903 ;
摘要
:
介绍了晶闸管器件的通态电流上升率di/dt参数及其损坏晶闸管器件的机理 ,并进一步介绍了提高晶闸管器件的通态di/dt耐量的设计和工艺方法 ,及应用过程中限制晶闸管阳极电路的电流上升率 ,保护晶闸管器件的方法
引用
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页码:67 / 68
页数:2
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