下丘脑后部兴奋与创伤性脑水肿发生的关系研究

为探讨下丘脑后部兴奋性变化与创伤性脑水肿发生的关系 ,采用电刺激方法兴奋动物下丘脑后部不同核团。根据刺激方法对 40只家兔进行分组 :A组为假手术对照 ,不做电刺激 ;B组刺激下丘脑后核 (PH) ;C组刺激下丘脑背内侧核 (DMH) ;D组刺激下丘脑腹内侧核 (VMH) ;E组在刺激PH之前静脉注射α受体阻断剂Regitine。每次刺激参数相同 ,刺激过程中连续记录颅内压 (ICP)变化。 3h后处死动物 ,切取大脑半球组织 ,检测脑组织含水量和K+、Na+含量 ,用胶体金技术对血脑屏障进行示踪。结果发现 ,电刺激三个核团都可引起ICP增高 ,与刺激前比较差异显著 (P <0 .0 1)。与对照组比较 ,脑组织含水量和K+、Na+含量B、C、D组均明显增高 (P<0 .0 1或 0 .0 5 )。E组ICP增高反应较B组减轻 ,脑组织水含量和K+、Na+含量明显低于B组 (P <0 .0 1或 0 .0 5 )。组织学检查在B、C、D组均发现血脑屏障开放和广泛的脑水肿改变 ,E组脑水肿改变程度减轻。提示下丘脑后部兴奋性异常可能是创伤性脑水肿发生的重要原因之一 ,其机制与激活中枢或 (和 )外周去甲肾上腺素 (NE)能神经系统有关。