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干涉条纹的数据拟合方法
被引:18
作者
:
论文数:
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机构:
赵光兴
陈洪璆
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华东冶金学院自动化系!马鞍山,浙江大学现代光学仪器国家重点实验室!杭州,浙江大学现代光学仪器国家重点实验室!杭州
陈洪璆
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机构:
杨国光
机构
:
[1]
华东冶金学院自动化系!马鞍山,浙江大学现代光学仪器国家重点实验室!杭州,浙江大学现代光学仪器国家重点实验室!杭州
来源
:
光学学报
|
2000年
/ 06期
基金
:
安徽省自然科学基金;
关键词
:
干涉条纹;
电荷耦合器件;
拟合;
D O I
:
暂无
中图分类号
:
O436.1 [干涉与衍射];
学科分类号
:
摘要
:
如何对干涉条纹数据进行有效地拟合 ,直接关系到条纹的定位精度以及待测量的检测精度。分析了目前使用的多项式最小二乘拟合法的局限性 ,提出了一种基于条纹特征的分步拟合新方法。该法避免了非线性拟合问题 ,其仿真拟合度优于 99.99% ,实验拟合度优于 97.2 4 % ,可有效地对干涉条纹进行实时拟合 ,并可满意地得到整个序列的拟合曲线。
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