干涉条纹的数据拟合方法

被引:18
作者
赵光兴
陈洪璆
杨国光
机构
[1] 华东冶金学院自动化系!马鞍山,浙江大学现代光学仪器国家重点实验室!杭州,浙江大学现代光学仪器国家重点实验室!杭州
基金
安徽省自然科学基金;
关键词
干涉条纹; 电荷耦合器件; 拟合;
D O I
暂无
中图分类号
O436.1 [干涉与衍射];
学科分类号
摘要
如何对干涉条纹数据进行有效地拟合 ,直接关系到条纹的定位精度以及待测量的检测精度。分析了目前使用的多项式最小二乘拟合法的局限性 ,提出了一种基于条纹特征的分步拟合新方法。该法避免了非线性拟合问题 ,其仿真拟合度优于 99.99% ,实验拟合度优于 97.2 4 % ,可有效地对干涉条纹进行实时拟合 ,并可满意地得到整个序列的拟合曲线。
引用
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