高功率固体激光装置光学元件“缺陷”分布的功率谱密度方法及等效求法

被引：8

作者：

周丽丹

粟敬钦

李平

刘兰琴

王文义

王方

莫磊

程文雍

张小民

机构：

[1] 中国工程物理研究院激光聚变研究中心

来源：

关键词：

功率谱密度; 统计分析; 等效求法; “缺陷”;

D O I：

暂无

中图分类号：

TN248 [激光器];

学科分类号：

摘要：

提出采用功率谱密度(PSD)的方法来描述光学元件的"缺陷"分布状况.以数目巨大的微米量级振幅调制型缺陷为例,基于统计思想,得到了光学元件"缺陷"分布等效PSD的求法,并验证了等效求法的合理性.

引用

页码：6279 / 6284

页数：6