应用相位移法的二维光栅测量

被引：5

作者：

赵兵

方如华

Yves Surrel

机构：

[1] 同济大学

[2] 法国圣太田矿业工程师学院

来源：

上海力学 | 1995年 / 04期

关键词：

正交光栅; 空间频率; 信号分离; 相位移;

D O I：

10.15959/j.cnki.0254-0053.1995.04.005

中图分类号：

O436 [物理光学（波动光学）];

学科分类号：

摘要：

本文介绍了二种二维位移测量的光栅方法。测试系统采用CCD摄象系统记录正交光栅图象,通过调整摄象机变焦镜头的放大倍数来控制采样的空间频率。采样后用数字信号处理的方法,通过软件手段实现水平向和垂直向光栅信号的分离,然后运用了相位移技术及载波—相位移技术得到二维位移。所开发的测试系统除具有高精度、高灵敏度的特点外,还具有较高的空间分辨率。

引用

页码：290 / 298

页数：9

共 4 条

[1]

Simultaneous U-V displacement field measurement with a phaseshifting grid method. Surrel Y,Zhao B. . 1994

[2]

Two dimension Fourier transform algorithm analyzing the interferogram and the fringe shift. Chen J,Zhu R,Liu L,Chen D. Proceedings of SPIE the International Society for Optical Engineering . 1991

[3]

Moirc avec Balayage de Phase: Etude des Performances et Application a L’Etude d’Essais sur Composites. Zhao B. . 1994

[4]

Phase stepping: a new self-calibrating algorithm. Surrel Y. Applied Optics . 1993

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