梨果面坏损区域的计算机视觉检测方法

被引:13
作者
梁伟杰
邓继忠
张泰岭
机构
[1] 华南农业大学工程学院
关键词
梨; 果面缺陷; 计算机视觉; 检测;
D O I
暂无
中图分类号
TP391.41 [];
学科分类号
080203 ;
摘要
为检测梨的果面的坏损区域,提出了一种利用多台摄像机在多个角度进行拍摄,对多幅采集后的图像进行切割,提取各自特征并进行拼合的算法。试验证明,这是一种较为快速、准确检测梨的果面坏损区域大小的算法,识别梨的坏损面积的相对误差能控制在±0.2范围内,处理时间为250~350ms;识别梨坏损区域数的正确率为0.89,可以满足系统设计要求。
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