支柱绝缘子污秽闪络机理分析

被引：5

作者：

顾乐观

张建辉

孙才新

机构：

[1] 重庆大学

[2] 重庆大学重庆

来源：

中国电机工程学报 | 1993年 / S1期

关键词：

绝缘子; 电场; 污秽; 闪络;

D O I：

10.13334/j.0258-8013.pcsee.1993.s1.014

中图分类号：

学科分类号：

摘要：

本文根据部分优化模拟电荷法,对真实的染污支柱绝缘子出现局部电弧后的表面电场分布进行了数值仿真计算,并利用Pockels元件场强测量仪进行了实测,从电场的角度系统分析了支柱绝缘子污闪过程和污闪机理。

引用

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页码：78 / 82+71

页数：6

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共 1 条

[1] 染污绝缘子沿面电场分布与局部电弧发展的关系 [J].

孙才新 ;

顾乐观 ;

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张建辉 ;

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中国科学(A辑数学物理学天文学技术科学), 1991, (10) :1113-1120