成功率的序贯检验与检验后成功率的置信限

被引：6

作者：

陈家鼎

高惠璇

戴中维

房祥忠

机构：

[1] 北京大学!北京

来源：

应用概率统计 | 1997年 / 04期

关键词：

成功率; 序贯检验; 置信限;

D O I：

暂无

中图分类号：

O213.2 [可靠性理论];

学科分类号：

070103 [概率论与数理统计];

摘要：

设｛Xi，i1｝是一独立同分布随机变量列，q＝p（Xi＝0）＝1-P（Xi＝1）；其中q未知．设｛An：1nn0｝和｛Rn：1nn0｝是任二个数集，它们满足A1A2…An0，0＜R1R2…Rno。，Ai＜Ri（i＝1，…，no-1）和Ano＝Rno。对于假设HO：qq0（0＜q0＜1）我们考虑序贯检验△＝（r，d），其中r＝min｛n：n1，DnAn或DnRn｝：d＝I（Dr≥Rr），这里Dn＝．IA是集A的示性函数，“d＝1”意味着拒绝H0，“d＝0”意味着接受H0，在本文中基于数据（τ，Dr）我们找到了q的某种意义下的最优置性下（上）限．

引用

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