微分进化算法在头部电阻抗成像中的应用

被引：12

作者：

李颖

徐桂芝

饶利芸

何任杰

颜威利

机构：

[1] 河北工业大学电气与自动化学院

来源：

中国生物医学工程学报 | 2005年 / 06期

基金：

高等学校博士学科点专项科研基金;

关键词：

电阻抗成像; 微分进化算法; 二维真实头模型;

D O I：

暂无

中图分类号：

TP274.4 [];

学科分类号：

0804 ; 080401 ; 080402 ; 081002 ; 0835 ;

摘要：

电阻抗成像(EIT)技术是一种功能成像技术,它向未知目标注入(安全)电流,通过测得目标边界的电位来估计它内部的阻抗分布情况。电阻抗成像是一个严重病态的非线性逆问题。本研究应用微分进化算法进行电阻抗成像,并将其用于二维真实头模型的阻抗重建中。仿真结果显示,作为一种简单、鲁棒的算法,微分进化算法在EIT成像中具有优越的性能。

引用

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页数：5