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同轴式高分辨率激光轮廓仪
被引:13
作者
:
周肇飞,王世华,周卫东,迟桂纯
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
成都科技大学
周肇飞,王世华,周卫东,迟桂纯
机构
:
[1]
成都科技大学
来源
:
仪器仪表学报
|
1994年
/ 03期
关键词
:
同轴式;
高分辨率;
高分辨力;
轮廓仪;
光学结构;
光斑直径;
参考光束;
激光干涉;
形状误差;
纳米级;
测量结果;
D O I
:
10.19650/j.cnki.cjsi.1994.03.006
中图分类号
:
TH74 [光学仪器];
学科分类号
:
0803 ;
摘要
:
本文着重介绍了一种新式高分辨率激光轮廓仪的原理、结构。此仪器测量表面微观形貌时,在高度方向的分辨率按国际惯用的均方值表示已优于1,并且在测量结果的形状误差方面明显优于国外研究成果。使它达到如此高分辨率的关键在于从光学结构上保证了优良的抗振动干扰性能,即使试件受外界振动干扰幅度达70纳米时,仍能正常进行亚纳米级分辨率的测量。
引用
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页码:250 / 254
页数:5
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