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PWM脉冲电压下电磁线绝缘老化机理分析
被引:21
作者:

周凯
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吴广宁
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邓桃
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吴建东
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佟来生
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机构:
[1] 西南交通大学电气工程学院
[2] 西南交通大学电气工程学院 四川省成都市
来源:
关键词:
PWM脉冲;
陷阱;
热刺激电流;
活化能;
局部放电;
D O I:
10.13334/j.0258-8013.pcsee.2007.24.005
中图分类号:
TM85 [高电压绝缘技术];
学科分类号:
080803 ;
摘要:
随着电力电子技术的发展,脉宽调制(PWM)电源得到了广泛应用。由于该电源输出电压是一系列脉冲电压,有可能导致变频电机绝缘过早破坏。目前,有关高压连续脉冲电压下绝缘材料失效机理各方观点尚未达成一致;过去的研究大多停留在宏观水平,主要是定性的实验研究,缺少微观定量分析的支持。针对上述问题,该文对变频电机定子绝缘的电磁线进行了老化实验。在此基础上,通过热刺激电流和脉冲下局部放电参数的关系,揭示了老化时间和陷阱参数(如峰值位置、陷阱能级)的联系。同时测量了局部放电参数(如起始放电电压、最大放电量、放电相位分布)随老化时间的变化。上述工作的开展,为更深入的脉冲电压下绝缘老化机理研究打下了坚实的基础。
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王霞
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屠德民
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屠德民
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李明
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机构: 西安交通大学电气绝缘研究所!陕西省西安市

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