Analysis of VCSEL degradation modes

被引：5

作者：

Herrick, RW ^{[1
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Cheng, YM ^{[1
]}

Beck, JM ^{[1
]}

Petroff, PM ^{[1
]}

Scott, JW ^{[1
]}

Peters, MG ^{[1
]}

Robinson, GD ^{[1
]}

Coldren, LA ^{[1
]}

Morgan, RA ^{[1
]}

HibbsBrenner, MK ^{[1
]}

机构：

[1] UNIV CALIF SANTA BARBARA,DEPT ELECT & COMP ENGN,SANTA BARBARA,CA 93106

来源：

FABRICATION, TESTING, AND RELIABILITY OF SEMICONDUCTOR LASERS | 1996年 / 2683卷

关键词：

VCSELs; laser reliability; laser degradation; cathodoluminescence; electroluminescence; dark line defects; distributed Bragg reflectors; DBRs;

D O I：

10.1117/12.237683

中图分类号：

O43 [光学];

学科分类号：

070207 ; 0803 ;

摘要：

引用

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页数：11