Controlled environment [ECELL] TEM for dynamic in-situ reaction studies with HREM lattice imaging

被引：16

作者：

Boyes, ED ^{[1
]}

Gai, PL ^{[1
]}

Hanna, LG ^{[1
]}

机构：

[1] DUPONT CO INC,CENT RES & DEV,WILMINGTON,DE 19880

来源：

IN SITU ELECTRON AND TUNNELING MICROSCOPY OF DYNAMIC PROCESSES | 1996年 / 404卷

关键词：

D O I：

10.1557/PROC-404-53

中图分类号：

T [工业技术];

学科分类号：

08 ;

摘要：

引用

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页数：8