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Reliability of proton-implanted VCSELs for data communications
被引:32
作者
:
Guenter, JK
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机构:
HONEYWELLS MICRO SWITCH DIV,RICHARDSON,TX 75081
HONEYWELLS MICRO SWITCH DIV,RICHARDSON,TX 75081
Guenter, JK
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Hawthorne, RA
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HONEYWELLS MICRO SWITCH DIV,RICHARDSON,TX 75081
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Hawthorne, RA
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Granville, DN
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HONEYWELLS MICRO SWITCH DIV,RICHARDSON,TX 75081
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Granville, DN
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HibbsBrenner, MK
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机构:
HONEYWELLS MICRO SWITCH DIV,RICHARDSON,TX 75081
HONEYWELLS MICRO SWITCH DIV,RICHARDSON,TX 75081
HibbsBrenner, MK
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Morgan, RA
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HONEYWELLS MICRO SWITCH DIV,RICHARDSON,TX 75081
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Morgan, RA
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]
机构
:
[1]
HONEYWELLS MICRO SWITCH DIV,RICHARDSON,TX 75081
来源
:
FABRICATION, TESTING, AND RELIABILITY OF SEMICONDUCTOR LASERS
|
1996年
/ 2683卷
关键词
:
VCSEL;
vertical cavity surface emitting laser;
semiconductor laser;
proton implanted laser;
reliability;
degradation;
fiber optic data communications;
D O I
:
10.1117/12.237681
中图分类号
:
O43 [光学];
学科分类号
:
070207 ;
0803 ;
摘要
:
引用
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页码:102 / 113
页数:12
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