Total electron yield method in x-ray absorption spectroscopy: A closer look at the saturation/self-absorption effects

被引：13

作者：

Chakarian, V ^{[1
]}

Idzerda, YU ^{[1
]}

机构：

[1] USN,RES LAB,WASHINGTON,DC 20375

来源：

JOURNAL OF APPLIED PHYSICS | 1997年 / 81卷 / 08期

关键词：

D O I：

10.1063/1.365534

中图分类号：

O59 [应用物理学];

学科分类号：

摘要：

引用

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页码：4709 / 4709

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