Interpretation of double x-ray diffraction peaks from InGaN layers (vol 79, pg 1432, 2001)

被引：7

作者：

Pereira, S ^{[1
]}

Correia, MR

Pereira, E

O'Donnell, KP

Alves, E

Sequeira, AD

Franco, N

机构：

[1] Univ Aveiro, Dept Fis, P-3810193 Aveiro, Portugal

[2] Univ Strathclyde, Dept Phys, Glasgow G4 0NG, Lanark, Scotland

[3] ITN, Dept Fis, EN 10, P-2686953 Sacavem, Portugal

来源：

关键词：

D O I：

10.1063/1.1430029

中图分类号：

O59 [应用物理学];

学科分类号：

摘要：

引用

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