Ellipsometry in interface science

被引：39

作者：

Motschmann, H ^{[1
]}

Teppner, R ^{[1
]}

机构：

[1] Max Planck Inst Kolloid & Grenzflachenforsch, D-14426 Golm, Germany

来源：

NOVEL METHODS TO STUDY INTERFACIAL LAYERS | 2001年 / 11卷

关键词：

D O I：

10.1016/S1383-7303(01)80014-4

中图分类号：

O64 [物理化学（理论化学）、化学物理学];

学科分类号：

070304 [物理化学]; 081704 [应用化学];

摘要：

引用

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