Are international tests worth anything?.

被引：7

作者：

Baker, Keith ^{[1
]}

机构：

[1] US Dept Educ, Washington, DC USA

来源：

PHI DELTA KAPPAN | 2007年 / 89卷 / 02期

关键词：

D O I：

10.1177/003172170708900205

中图分类号：

G40 [教育学];

学科分类号：

040101 ; 120403 ;

摘要：

[No abstract available]

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共 1 条

[1]

1991, PHI DELTA KAPPAN APR, P628