Explicit formulation of a series resistance correction procedure for MOSFET parameter extraction and its accuracy analysis

被引：2

作者：

Niu, GF ^{[1
]}

Cressler, JD ^{[1
]}

Mathew, SJ ^{[1
]}

机构：

[1] Auburn Univ, Alabama Microelect Sci & Technol Ctr, Dept Elect Engn, Auburn, AL 36849 USA

来源：

关键词：

D O I：

10.1016/S0038-1101(97)00270-0

中图分类号：

TM [电工技术]; TN [电子技术、通信技术];

学科分类号：

0808 ; 0809 ;

摘要：

[No abstract available]

引用

页码：1057 / 1058

页数：2

共 3 条

[1]

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