Performance capabilities and utilization of MICOM's diode laser based infrared scene projector technology

被引：7

作者：

Beasley, DB ^{[1
]}

Cooper, JB ^{[1
]}

机构：

[1] OPT SCI CORP,HUNTSVILLE,AL 35808

来源：

TECHNOLOGIES FOR SYNTHETIC ENVIRONMENTS: HARDWARE-IN-THE-LOOP TESTING | 1996年 / 2741卷

关键词：

infrared; scene projection; diode lasers; simulation; FPA testing; hardware-in-the-loop;

D O I：

10.1117/12.241133

中图分类号：

V [航空、航天];

学科分类号：

08 ; 0825 ;

摘要：

引用

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页数：9