Quantitative disassembly evaluation

被引:14
作者
Suga, T [1 ]
Saneshige, K [1 ]
Fujimoto, J [1 ]
机构
[1] UNIV TOKYO,RCAST,TOKYO,JAPAN
来源
PROCEEDINGS OF THE 1996 IEEE INTERNATIONAL SYMPOSIUM ON ELECTRONICS AND THE ENVIRONMENT, CONFERENCE RECORD | 1996年
关键词
D O I
10.1109/ISEE.1996.500390
中图分类号
X [环境科学、安全科学];
学科分类号
08 ; 0830 ;
摘要
引用
收藏
页码:19 / 24
页数:4
相关论文
empty
未找到相关数据