Comment on "Unraveling the conduction mechanism of Al-doped ZnO films by valence band soft x-ray photoemission spectroscopy" [Appl. Phys. Lett. 86, 042104 (2005)]

被引：3

作者：

Lin, YJ ^{[1
]}

机构：

[1] Natl Changhua Univ Educ, Inst Photon, Changhua 500, Taiwan

来源：

关键词：

D O I：

10.1063/1.1935759

中图分类号：

O59 [应用物理学];

学科分类号：

摘要：

引用

页数：1

共 2 条

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