Surface characterization of an XMM mandrel at the European synchrotron radiation facility .2.

被引：3

作者：

Gougeon, S ^{[1
]}

Hignette, O ^{[1
]}

Freund, A ^{[1
]}

Lienert, U ^{[1
]}

Gondoin, P ^{[1
]}

deChambure, D ^{[1
]}

机构：

[1] EUROPEAN SYNCHROTRON RADIAT FACIL,F-38043 GRENOBLE,FRANCE

来源：

MULTILAYER AND GRAZING INCIDENCE X-RAY/EUV OPTICS III | 1996年 / 2805卷

关键词：

X-ray optics; surface metrology; XMM satellite; angle-resolved scattering; Long Trace Profiler; image modeling;

D O I：

10.1117/12.245082

中图分类号：

P1 [天文学];

学科分类号：

0704 ;

摘要：

引用

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页数：18