A conservative theory for long term reliability growth prediction

被引：3

作者：

Bishop, PG ^{[1
]}

Bloomfield, RE ^{[1
]}

机构：

[1] ADELARD,LONDON E3 2DA,ENGLAND

来源：

SEVENTH INTERNATIONAL SYMPOSIUM ON SOFTWARE RELIABILITY ENGINEERING, PROCEEDINGS | 1996年

关键词：

D O I：

10.1109/ISSRE.1996.558887

中图分类号：

TP31 [计算机软件];

学科分类号：

081202 ; 0835 ;

摘要：

引用

页码：308 / 317

页数：10