Oscillation-test strategy for analog and mixed-signal integrated circuits

被引：93

作者：

Arabi, K ^{[1
]}

Kaminska, B ^{[1
]}

机构：

[1] ECOLE POLYTECH,DEPT ELECT & COMP ENGN,MONTREAL,PQ H3C 3A7,CANADA

来源：

14TH IEEE VLSI TEST SYMPOSIUM, PROCEEDINGS | 1996年

关键词：

D O I：

10.1109/VTEST.1996.510896

中图分类号：

TP3 [计算技术、计算机技术];

学科分类号：

0812 ;

摘要：

引用

页码：476 / 482

页数：7