Information Depth and Kikuchi Band Contrast in Electron Backscatter Diffraction Patterns

被引：1

作者：

Winkelmann, Aimo ^{[1
]}

机构：

[1] Max Planck Inst Mikrostrukturphys, D-06120 Halle, Saale, Germany

来源：

MICROSCOPY AND MICROANALYSIS | 2009年 / 15卷

关键词：

D O I：

10.1017/S1431927609094227

中图分类号：

T [工业技术];

学科分类号：

08 ;

摘要：

[No abstract available]

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页码：414 / 415

页数：2

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共 1 条

[1] Many-beam dynamical simulation of electron backscatter diffraction patterns [J].

Winkelmann, Aimo ;

Trager-Cowan, Carol ;

Sweeney, Francis ;

Day, Austin P. ;

Parbrook, Peter .

ULTRAMICROSCOPY, 2007, 107 (4-5) :414-421