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Special issue: Nanomanipulation of atoms
被引：4
作者：
Meschede, D
Mlynek, J
机构：
来源：
APPLIED PHYSICS B-LASERS AND OPTICS
|
2000年
/
70卷
/
05期
关键词：
Scanning Probe Microscopy;
Laser Cool;
Matter Wave;
High Precision Measurement;
Strong Localization;
D O I：
10.1007/s003400000309
中图分类号：
O43 [光学];
学科分类号：
070207 ;
0803 ;
摘要：
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