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In and out plane X-ray diffraction of cellulose LB films
被引:3
作者
:
Kimura, SI
论文数:
0
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0
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0
机构:
Res Inst Technol, Tottori 6891112, Japan
Res Inst Technol, Tottori 6891112, Japan
Kimura, SI
[
1
]
Kitagawa, M
论文数:
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机构:
Res Inst Technol, Tottori 6891112, Japan
Res Inst Technol, Tottori 6891112, Japan
Kitagawa, M
[
1
]
Kusano, H
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机构:
Res Inst Technol, Tottori 6891112, Japan
Res Inst Technol, Tottori 6891112, Japan
Kusano, H
[
1
]
Kobayashi, H
论文数:
0
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机构:
Res Inst Technol, Tottori 6891112, Japan
Res Inst Technol, Tottori 6891112, Japan
Kobayashi, H
[
1
]
机构
:
[1]
Res Inst Technol, Tottori 6891112, Japan
来源
:
NOVEL METHODS TO STUDY INTERFACIAL LAYERS
|
2001年
/ 11卷
关键词
:
cellulose;
Langmuir-Blodgett film;
indium tin oxide;
x-ray diffraction analysis;
D O I
:
10.1016/S1383-7303(01)80029-6
中图分类号
:
O64 [物理化学(理论化学)、化学物理学];
学科分类号
:
070304 ;
081704 ;
摘要
:
引用
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页码:255 / 264
页数:10
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