In and out plane X-ray diffraction of cellulose LB films

被引：3

作者：

Kimura, SI ^{[1
]}

Kitagawa, M ^{[1
]}

Kusano, H ^{[1
]}

Kobayashi, H ^{[1
]}

机构：

[1] Res Inst Technol, Tottori 6891112, Japan

来源：

NOVEL METHODS TO STUDY INTERFACIAL LAYERS | 2001年 / 11卷

关键词：

cellulose; Langmuir-Blodgett film; indium tin oxide; x-ray diffraction analysis;

D O I：

10.1016/S1383-7303(01)80029-6

中图分类号：

O64 [物理化学（理论化学）、化学物理学];

学科分类号：

070304 ; 081704 ;

摘要：

引用

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页数：10