X-ray diffraction between 4K and 300 K on a four circle diffractometer equipped with a 2D detector

被引：2

作者：

Argoud, R. ^{[2
]}

Fertey, P. ^{[1
]}

Bordet, P. ^{[2
]}

Reymann, J. ^{[1
]}

机构：

[1] Univ Henri Poincare, LCM3B, F-54506 Vandoeuvre Les Nancy, France

[2] Lab Cristallog Grenoble, F-38042 Grenoble 9, France

来源：

ACTA CRYSTALLOGRAPHICA A-FOUNDATION AND ADVANCES | 2000年 / 56卷

关键词：

instrumentation; detectors;

D O I：

10.1107/S010876730002482X

中图分类号：

O6 [化学];

学科分类号：

0703 ;

摘要：

s7.m0.p7

引用

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页数：1