Three Dimensional Charge Density Measurements at Surfaces

被引：2

作者：

Feidenhans'l, Robert ^{[1
]}

Bunk, Oliver ^{[2
]}

Ciston, James ^{[3
]}

Marks, Laurence D. ^{[3
]}

机构：

[1] Univ Copenhagen, Niels Bohr Inst, Copenhagen, Denmark

[2] Paul Scherrer Inst, Swiss Light Source, Villigen, Switzerland

[3] Northwestern Univ, Dept Mat Sci & Engn, Evanston, IL 60201 USA

来源：

ACTA CRYSTALLOGRAPHICA A-FOUNDATION AND ADVANCES | 2005年 / 61卷

关键词：

surfaces; charge density; X-ray diffraction;

D O I：

10.1107/S0108767305095929

中图分类号：

O6 [化学];

学科分类号：

0703 ;

摘要：

MS75.29.5

引用

页码：C96 / C96

页数：1