On estimating bounds of the quiescent current for I-DDQ testing

被引：14

作者：

Ferre, A ^{[1
]}

Figueras, J ^{[1
]}

机构：

[1] UNIV BARCELONA,DEPT ENGINYERIA ELECT,E-08028 BARCELONA,SPAIN

来源：

14TH IEEE VLSI TEST SYMPOSIUM, PROCEEDINGS | 1996年

关键词：

D O I：

10.1109/VTEST.1996.510843

中图分类号：

TP3 [计算技术、计算机技术];

学科分类号：

0812 ;

摘要：

引用

页码：106 / 111

页数：6