Heavy ion and proton induced single event transients in comparators

被引：46

作者：

Nichols, DK

Coss, JR

Miyahira, TF

Schwartz, HR

机构：

[1] Jet Propulsion Laboratory, California Institute of Technology, Pasadena

来源：

IEEE TRANSACTIONS ON NUCLEAR SCIENCE | 1996年 / 43卷 / 06期

关键词：

D O I：

10.1109/23.556892

中图分类号：

TM [电工技术]; TN [电子技术、通信技术];

学科分类号：

0808 ; 0809 ;

摘要：

This paper presents a display of heavy-ion- and proton-induced single event transients for three comparators. The transient vital signs are serious: low LET threshold, very high voltage amplitude and extended pulse duration (microsecs.)

引用

页码：2960 / 2967

页数：8