Quantitative simulation of strained and unstrained InP-based resonant tunneling diodes

被引:16
作者
Klimeck, G
Boykin, TB
Bowen, RC
Lake, R
Blanks, D
Moise, T
Kao, YC
Frensley, WR
机构
来源
55TH ANNUAL DEVICE RESEARCH CONFERENCE, DIGEST - 1997 | 1997年
关键词
D O I
10.1109/DRC.1997.612487
中图分类号
TM [电工技术]; TN [电子技术、通信技术];
学科分类号
0808 ; 0809 ;
摘要
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页码:92 / 93
页数:2
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