ToF-SIMS analyses of polystyrene and dibenzanthracene: Evidence of the fragmentation and metastable decay processes in the molecular secondary ion emission (vol 381, pg 18, 1997)

被引：10

作者：

Delcorte, A

Segda, BG

Bertrand, P

机构：

来源：

SURFACE SCIENCE | 1997年 / 389卷 / 1-3期

关键词：

D O I：

10.1016/S0039-6028(97)00468-8

中图分类号：

O64 [物理化学（理论化学）、化学物理学];

学科分类号：

070304 ; 081704 ;

摘要：

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[1] ToF-SIMS analyses of polystyrene and dibenzanthracene: Evidence for fragmentation and metastable decay processes in molecular secondary ion emission [J].

Delcorte, A ;

Segda, BG ;

Bertrand, P .

SURFACE SCIENCE, 1997, 381 (01) :18-32

[2]

Forst W., 1973, THEORY UNIMOLECULAR