Structural properties and interactions of thin films at the air-liquid interface explored by synchrotron X-ray scattering

被引：104

作者：

Jensen, TR ^{[1
]}

Kjaer, K ^{[1
]}

机构：

[1] Riso Natl Lab, Mat Res Dept, DK-4000 Roskilde, Denmark

来源：

NOVEL METHODS TO STUDY INTERFACIAL LAYERS | 2001年 / 11卷

关键词：

grazing-incidence X-ray diffraction; specular X-ray reflectivity; liquid surface X-ray scattering; advanced materials; thin films; lipid structure; lipid-protein interactions;

D O I：

10.1016/S1383-7303(01)80028-4

中图分类号：

O64 [物理化学（理论化学）、化学物理学];

学科分类号：

070304 ; 081704 ;

摘要：

引用

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页数：50