Dual-frequency balun to decrease influence of RF feed cables in small antenna measurements

被引：18

作者：

Icheln, C ^{[1
]}

Vainikainen, P ^{[1
]}

机构：

[1] Helsinki Univ Technol, IDC, Radio Lab, FIN-02015 Helsinki, Finland

来源：

ELECTRONICS LETTERS | 2000年 / 36卷 / 21期

关键词：

D O I：

10.1049/el:20001243

中图分类号：

TM [电工技术]; TN [电子技术、通信技术];

学科分类号：

0808 ; 0809 ;

摘要：

A dual-frequency balun applied in connection with measurements of small dual-frequency antennas reduces parasitic currents on the surface of the RF feed cable, so that the influence of the RF measurement cable on the radiation pattern is minimised.

引用

页码：1760 / 1761

页数：2