Tip-sample interactions in scanning force microscopy using the frequency-modulation technique: Experiments and computer simulation (vol 39, pg 153, 1997)

被引：7

作者：

Gotsmann, B ^{[1
]}

Kruger, D ^{[1
]}

Fuchs, B ^{[1
]}

机构：

[1] Univ Munster, Inst Phys, D-48149 Munster, Germany

来源：

EUROPHYSICS LETTERS | 1998年 / 41卷 / 05期

关键词：

D O I：

10.1209/epl/i1998-00195-4

中图分类号：

O4 [物理学];

学科分类号：

0702 ;

摘要：

引用

收藏

页码：583 / 583

页数：1

相关论文

共 1 条

[1] Tip-sample interactions in scanning force microscopy using the frequency-modulation technique: Experiments and computer simulation [J].

Gotsmann, B ;

Kruger, D ;

Fuchs, H .

EUROPHYSICS LETTERS, 1997, 39 (02) :153-158