History dependence of non-fully depleted (NFD) digital SOI circuits

被引：10

作者：

Assaderaghi, F ^{[1
]}

Shahidi, GG ^{[1
]}

Hargrove, M ^{[1
]}

Hathorn, K ^{[1
]}

Hovel, H ^{[1
]}

Kulkarni, S ^{[1
]}

Rausch, W ^{[1
]}

Sadana, D ^{[1
]}

Schepis, D ^{[1
]}

Schulz, R ^{[1
]}

Yee, D ^{[1
]}

Sun, J ^{[1
]}

Dennard, R ^{[1
]}

Davari, B ^{[1
]}

机构：

[1] IBM CORP,SEMICOND RES & DEV CTR,HOPEWELL JCT,NY 12533

来源：

1996 SYMPOSIUM ON VLSI TECHNOLOGY: DIGEST OF TECHNICAL PAPERS | 1996年

关键词：

D O I：

10.1109/VLSIT.1996.507817

中图分类号：

TM [电工技术]; TN [电子技术、通信技术];

学科分类号：

0808 ; 0809 ;

摘要：

引用

页码：122 / 123

页数：2