Interference refractometer and thicknessmeter

被引：1

作者：

Alexandrov, SA ^{[1
]}

Chernyh, IV ^{[1
]}

Korban, VN ^{[1
]}

机构：

[1] BELOMO, R&D CTR LEMT, MINSK, BELARUS

来源：

OPTICAL INSPECTION AND MICROMEASUREMENTS | 1996年 / 2782卷

关键词：

D O I：

10.1117/12.250811

中图分类号：

O43 [光学];

学科分类号：

070207 ; 0803 ;

摘要：

引用

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页数：8