Double shear speckle interferometry for curvature measurement

被引：6

作者：

Ganesan, AR ^{[1
]}

Murukeshan, VM ^{[1
]}

Meinlschmidt, P ^{[1
]}

Sirohi, RS ^{[1
]}

机构：

[1] Indian Inst Technol, APPL OPT LAB, DEPT PHYS, Madras 600036, Tamil Nadu, INDIA

来源：

LASER INTERFEROMETRY VIII: TECHNIQUES AND ANALYSIS | 1996年 / 2860卷

关键词：

shear interferometry; speckle; curvature; second order derivative;

D O I：

10.1117/12.276305

中图分类号：

O43 [光学];

学科分类号：

070207 ; 0803 ;

摘要：

引用

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页数：8