Correlation between X-ray reflectivity measurements and surface roughness of AXAF coated witness samples

被引：6

作者：

Clark, AM ^{[1
]}

Bruni, RJ ^{[1
]}

Romaine, SE ^{[1
]}

Schwartz, DA ^{[1
]}

VanSpeybroeck, L ^{[1
]}

Yip, PW ^{[1
]}

Drehman, AJ ^{[1
]}

Shapiro, AP ^{[1
]}

机构：

[1] HARVARD SMITHSONIAN CTR ASTROPHYS,CAMBRIDGE,MA 02138

来源：

MULTILAYER AND GRAZING INCIDENCE X-RAY/EUV OPTICS III | 1996年 / 2805卷

关键词：

AFM; WYKO; surface roughness; reflectivity; AXAF;

D O I：

10.1117/12.245102

中图分类号：

P1 [天文学];

学科分类号：

0704 ;

摘要：

引用

页码：268 / 276

页数：9