Use of VCSEL arrays for parallel optical interconnects

被引：12

作者：

Lebby, M ^{[1
]}

Gaw, CA ^{[1
]}

Jiang, WB ^{[1
]}

Kiely, PA ^{[1
]}

Shieh, CL ^{[1
]}

Claisse, PR ^{[1
]}

Ramdani, J ^{[1
]}

Hartman, DH ^{[1
]}

Schwartz, DB ^{[1
]}

Grula, J ^{[1
]}

机构：

[1] MOTOROLA INC,PHOTON TECHNOL CTR,TEMPE,AZ 85284

来源：

FABRICATION, TESTING, AND RELIABILITY OF SEMICONDUCTOR LASERS | 1996年 / 2683卷

关键词：

VCSELs; laser reliability; laser degradation; ESD; dark line defects; parallel optical interconnect; DBR; electroluminescence;

D O I：

10.1117/12.237679

中图分类号：

O43 [光学];

学科分类号：

070207 ; 0803 ;

摘要：

引用

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页数：11